EDXL 300 Optimalizált Gerjesztésű Energia Diszperzív XRF Spektrométer
Nagy érzékenység nyomelem analízishez a Na-U elemtartományban: Az egyes elemtartományokra optimalizált gerjesztés és a He öblítés alkalmazásával kiváló érzékenység érhető el a könyű elemek (pl. S, P vagy Cl) nyomelem analízise esetén is.
EDXL300 speciális optikai rendszer
Az EDXL300 készülékben alkalmazott speciális gerjesztés alkalmazásával hagyományos EDXRF készülékekhez képest jóval nagyobb jel/háttér arány érhető el.
A négy szóró target közül a legmegfelelőb automatikus kiválasztásával és alkalmazásával optimális gerjesztési feltételek biztosíthatók az adott elemek méréséhez.
Kivételesen alacsony háttér és nagy csúcs/háttér arány
A háttérszint lecsökkentésével jelentősen csökkenthető a mérési hiba és könyű elemek esetén is megfelelő jel/háttér arány érhető el extrém alacsony koncentrációk esetén is. Így lehetővé válik pl. S, Cl vagy P 10 ppm alatti koncentrációjának pontos mérése is.
