Nanotest Hungary Kft.

  • Increase font size
  • Default font size
  • Decrease font size
Címlap Termékek SAXS berendezések

Szemcseméret eloszlás meghatározás - Kisszögű Röntgenszórás vizsgálat (SAXS)

A kisszögű röntgenszórás vizsgálati módszer (SAXS), egy a kolloidok szerkezeti jellemzőinek tanulmányozására alkalmas módszer. A technika alkalmazása során egy fókuszált, párhuzamos röntgen nyalábot bocsátunk a mintára, aminek következtében a mintában lévő elektronsűrűség inhomogenitásokból eredő koherens szórási képet kapunk. Miután a vizsgálati méret tartomány sokkal nagyobb, mint a mérésre általában használt röntgen sugárzás hullámhossza (1.54 Å, Cu), így ezzel a módszerrel tipikusan az 1 és 1000 nm közöti tartomány vizsgálható egy szűk szög szórási tartományban. Ennek a szórási tartománynak vagy szórási képnek a kiértékelése során felhasználva a részecske méret és a szórási szög közötti inverz összefüggést, megkülönböztethetők lesznek a mintában található részecskék méretük illetve alakjuk szerint. 

 

S-Max3000
Nagyfelbontású SAXS


High-resolution anisotropic measurements with
maximum flexibility

Bővebben...
 

TTRAX III 18kW-os röntgen diffraktométer

18kW-os forgóanódos generátor - szinkrotron sugárzást megközelítő intenzitás

Bővebben...
 

Ultima IV multifunkciós diffraktométer



CBO (Cross Beam Optics) - fókuszált-, és párhuzamos nyaláb, SAXS, In-Plane

Bővebben...
 

SMARTLAB Ultra-Nagyfelbontású diffraktométer

Teljesen automatizált diffraktométer nanotechnológiai kutatáshoz

Bővebben...
 



RIGAKU - Innovatív megoldások a röntgenspektrometriában: A Total Reflexiós Röntgenspektrometria újszerű alkalmazásai

A RIGAKU Corporation röntgenspektrometria területén megjelent új fejlesztései közül ezúttal a Total Reflexiós Röntgenspektrometria (TXRF) néhány újszerű alkalmazását szeretnénk bemutatni a RIGAKU új fejlesztésű, asztali TXRF készülékén, a NANOHUNTER készüléken keresztül. A szabadalmaztatott váltható gerjesztő forrásnak és a röntgennyaláb beesési szögének automatizált változtatásával a készülék nem csak az Al - U elemtartomány ppb szintű mérését teszi lehetővé, hanem vékonyrétegek esetén a felületi elemösszetétel, illetve szennyezések mélység szerinti profilja is roncsolás mentesen meghatározható. Ezáltal felületi folyamatok, diffúzió, szegregáció, felületi homogenitás stb. tanulmányozható.           Bővebben...