Skip to content
Skip to main navigation
Skip to 1st column
Skip to 2nd column

Nanotest Hungary Kft.

Címlap

Kombinált XRD - DSC

Kombinált XRD - DSC analízis

A különböző szilárd állapotok közötti fázisátmenetek tanulmányozása rendkívül fontosá válhat gyógyszeripari és egyéb alkalmazások esetén. A röntgen diffrakció (XRD) és a differenciál pásztázó kalorimetria (DSC), bizonyítottan a két leghatékonyabb módszer erre a célra. Mivel a két technikával kapható eredmények nagyon jól kiegészítik egymást, az XRD és DSC módszer együttes használata nagyon elterjedt szilárd anyagok termális reakcióinak vizsgálatára. Az általános megközelítés az, hogy a két módszert külön-külön alkalmazzák, ami sokszor nem szolgáltat megfelelő mérési eredményt, mivel nem lehetséges a mérési feltételek pontos megismétlése. Ez a probléma kiküszöbölhető az XRD és DSC mérés egyidejű végrehajtásával, a két technika szimultán alkalmazásával ugyanazon a mintán.

Készülékek:

High-power θ/θ goniometer system: TTRAX III
Multipurpose, high resolution XRD: Ultima IV

In-situ analysis: High temperature · Low temperature · Variable humidity · Reactive gases · Combined XRD/DSC

The ability to measure samples under specific non-ambient conditions is essential in the research and development of many advanced materials. The Ultima IV has a wide range of fully integrated non-ambient configurations, including the world's only commercially available combined XRD/DSC system.

Non-ambient capabilities include:

High temperature · Low temperature · Variable humidity · Reactive gases · Combined XRD/DSC

Alkalmazások

XtaLAB egykristály diffraktométer

Kompakt egykristály diffraktométer oktatáshoz és kutatáshoz egyaránt

RIGAKU - Innovatív megoldások a röntgenspektrometriában: A Total Reflexiós Röntgenspektrometria újszerű alkalmazásai

A RIGAKU Corporation röntgenspektrometria területén megjelent új fejlesztései közül ezúttal a Total Reflexiós Röntgenspektrometria (TXRF) néhány újszerű alkalmazását szeretnénk bemutatni a RIGAKU új fejlesztésű, asztali TXRF készülékén, a NANOHUNTER készüléken keresztül. A szabadalmaztatott váltható gerjesztő forrásnak és a röntgennyaláb beesési szögének automatizált változtatásával a készülék nem csak az Al - U elemtartomány ppb szintű mérését teszi lehetővé, hanem vékonyrétegek esetén a felületi elemösszetétel, illetve szennyezések mélység szerinti profilja is roncsolás mentesen meghatározható. Ezáltal felületi folyamatok, diffúzió, szegregáció, felületi homogenitás stb. tanulmányozható. Bővebben...