Nanotest Hungary Kft.

  • Increase font size
  • Default font size
  • Decrease font size
Címlap Alkalmazások Szemcseméret eloszlás - SAXS

Szemcseméret eloszlás meghatározás - Kisszögű Röntgenszórás vizsgálat (SAXS)

A kisszögű röntgenszórás vizsgálati módszer (SAXS), egy a kolloidok szerkezeti jellemzőinek tanulmányozására alkalmas módszer. A technika alkalmazása során egy fókuszált, párhuzamos röntgen nyalábot bocsátunk a mintára, aminek következtében a mintában lévő elektronsűrűség inhomogenitásokból eredő koherens szórási képet kapunk. Miután a vizsgálati méret tartomány sokkal nagyobb, mint a mérésre általában használt röntgen sugárzás hullámhossza (1.54 Å, Cu), így ezzel a módszerrel tipikusan az 1 és 1000 nm közöti tartomány vizsgálható egy szűk szög szórási tartományban. Ennek a szórási tartománynak vagy szórási képnek a kiértékelése során felhasználva a részecske méret és a szórási szög közötti inverz összefüggést, megkülönböztethetők lesznek a mintában található részecskék méretük illetve alakjuk szerint. 

Particle size and shape

Physical and chemical properties of nanoparticles and nano crystalline materials are strongly influenced by their particle size, shape and structural strain, including rheology, surface area, cation exchange capacity, solubility, reflectivity, etc. Crystallite size is performed by measuring the broadening of a particular X-ray diffraction (XRD) peak in a diffraction pattern associated with a particular planar reflection from within the crystal unit cell. It is inversely related to the FWHM (full width at half maximum) of an individual peak: the more narrow the peak, the larger the crystallite size. This is due to the periodicity of the individual crystallite domains, in phase, reinforcing the diffraction of the X-ray beam, resulting in a tall narrow peak. If the crystals are defect free and periodically arranged, the X-ray beam is diffracted to the same angle even through multiple layers of the specimen. If the crystals are randomly arranged, or have low degrees of periodicity, the result is a broader peak.

Systems


 

European Crystallographic Meeting ECM 26, Darmstadt 2010. Augusztus 29 - Szeptember 2

Nano-részecskék méretének vizsgálata kisszögű röntgenszórás (SAXS) és röntgendiffrakciós (XRD) módszerekkel

Nano-részecskék méretére vonatkozóan mind a SAXS, mind az XRD módszer alkalmazásával kapható információ. A két technika eltérő jellegéből adódóan azonban, az eredményeket összevetve számos további információ származtatható a nanorészecskék szerkezetével kapcsolatosan.Ebben az előadásban a SAXS és az XRD módszerek eredményei és kerülnek bemutatásra és összevetésre különböző típusú nanorészecskéket tartalmazó mintákon keresztül.   

Bővebben...
 

Részecske méret eloszlás vizsgálata a szub-mikronos tartományban Ultra-Kisszögű Röntgenszórás (USAXS) technika alkalmazásával

A kisszögű röntgenszórás vizsgálat (SAXS) egy bevált technika részecske méret eloszlás meghatározására és nano-anyagok molekula szerkezetének tanulmányozására. A hagyományos SAXS technikával vizsgálható maximális részecske méret általában 100 nm körül van. Az utóbbi időben különböző anyagok esetén szükségessé vált a szub-mikronos  méretű részecskék SAXS vizsgálata is.

Bővebben...
 


Mini-Z asztali WDXRF
spektrométer család

Mini-Z

Fix csatornás asztali WDXRF készülékek egy elem mérésére optimalizálva

Bővebben...

RIGAKU - Innovatív megoldások a röntgenspektrometriában: A Total Reflexiós Röntgenspektrometria újszerű alkalmazásai

A RIGAKU Corporation röntgenspektrometria területén megjelent új fejlesztései közül ezúttal a Total Reflexiós Röntgenspektrometria (TXRF) néhány újszerű alkalmazását szeretnénk bemutatni a RIGAKU új fejlesztésű, asztali TXRF készülékén, a NANOHUNTER készüléken keresztül. A szabadalmaztatott váltható gerjesztő forrásnak és a röntgennyaláb beesési szögének automatizált változtatásával a készülék nem csak az Al - U elemtartomány ppb szintű mérését teszi lehetővé, hanem vékonyrétegek esetén a felületi elemösszetétel, illetve szennyezések mélység szerinti profilja is roncsolás mentesen meghatározható. Ezáltal felületi folyamatok, diffúzió, szegregáció, felületi homogenitás stb. tanulmányozható.           Bővebben...