Alkalmazások
Alkalmazások
Megoldások mind kutatási, mind minőség ellenőrzés területen, a legkülönbözőbb alkalmazásokra. A rutin készülékek mellett megtalálhatók egyedülállóan nagy teljesítménnyel rendelkező készülékek, melyek a legspeciálisabb igényeket is kielégítik.
Elemanalitika
A NIC Hg analizátorok, az alkalmazott mérési módszereket és a készülékek felépítését tekintve a legkülönbözőbb alkalmazási területeken használhatók ultra alacsony (1 ppt alatti) Hg tartalom mérésére.
A RIGAKU EDXRF és WDXRF készülékek rutinszerűen használhatók különféle anyagok kémiai összetételének meghatározására mind kutatásban, mind a minőség ellenőrzés területén a Be-U elemtartományban. A standard analitikai vizsgálatokon kívül a készülékekben alkalmazott speciális fejlesztéések lehetővé teszik többek között: Mikroanalízis, elemeloszlás térkép felvétel, felületi mélységprofil vizsgálat elvégzését is.
Szerkezetvizsgálat
A RIGAKU által kifejlesztett diffraktométer rendszerek megoldást kínálnak a legkülönbözőbb szerkezetvizsgálati feladatokra:
Pordiffrakció (In-Situ XRD Magas/alacsony hőmérsékleten, SAXS,, XRD-DSC csatoltt technika)
Nagyfelbontású diffrakció vékonyrétegek vizsgálatához (XRR, GXRD, In-Plane XRD)
Mikrodiffrakció
Molekula krisztallográfia
Kombinált XRD - DSC analízis
A különböző szilárd állapotok közötti fázisátmenetek tanulmányozása rendkívül fontosá válhat gyógyszeripari és egyéb alkalmazások esetén. A röntgen diffrakció (XRD) és a differenciál pásztázó kalorimetria (DSC), bizonyítottan a két leghatékonyabb módszer erre a célra. A RIGAKU diffraktométereivel az XRD és DSC mérés egyidejű végrehajtásával, a két technika szimultán alkalmazható.
Szemcseméret eloszlás és porozitás vizsgálat
A Kisszögű röntgenszórás vizsgálat (SAXS) módszerének alkalmazásával lehetővé válik nanorészecskék illetve nanopórusok méreteloszlásának vizsgálata az 1 - 3000 nm-es tartományban
