Nanotest Hungary Kft.

  • Increase font size
  • Default font size
  • Decrease font size

Nagyfelbontású diffrakció - High Resolution Diffraction

X-ray diffraction (XRD) and the analogous techniques of small and large angle X-ray scattering (SAXS and WAXS) are high-tech, non-destructive methods for analyzing a wide range of materials, including fluids, metals, minerals, polymers, catalysts, plastics, ceramics, pharmaceuticals, thin-film coatings, and semiconductors. Theses techniques have become indispensable for materials investigation, characterization and quality control (QC). Example applications include phase analysis, crystalline structure and relaxation determination, texture and residual stress investigations, R&D for nano-materials, and polymorph screening. Whether research or production QC and engineering, Rigaku offers a range of instruments, developed in co-operation with academic and industrial users, which provide the most technically advanced, and cost-effective X-ray solutions available today.

Systems


 


XtaLAB egykristály diffraktométer

Kompakt egykristály diffraktométer oktatáshoz és kutatáshoz egyaránt

Bővebben...

RIGAKU - Innovatív megoldások a röntgenspektrometriában: A Total Reflexiós Röntgenspektrometria újszerű alkalmazásai

A RIGAKU Corporation röntgenspektrometria területén megjelent új fejlesztései közül ezúttal a Total Reflexiós Röntgenspektrometria (TXRF) néhány újszerű alkalmazását szeretnénk bemutatni a RIGAKU új fejlesztésű, asztali TXRF készülékén, a NANOHUNTER készüléken keresztül. A szabadalmaztatott váltható gerjesztő forrásnak és a röntgennyaláb beesési szögének automatizált változtatásával a készülék nem csak az Al - U elemtartomány ppb szintű mérését teszi lehetővé, hanem vékonyrétegek esetén a felületi elemösszetétel, illetve szennyezések mélység szerinti profilja is roncsolás mentesen meghatározható. Ezáltal felületi folyamatok, diffúzió, szegregáció, felületi homogenitás stb. tanulmányozható.           Bővebben...