Nanotest Hungary Kft.

  • Increase font size
  • Default font size
  • Decrease font size

Pordiffrakció

Kristály szerkezet meghatározása porröntgen diffrakció alkalmazásával nagyon sok lehetőséget rejt magában a legkülönbözőbb területeken, beleértve az anyagtudományt, biotechnológiát és gyógyszeripari kutatást. Olyan alkalmazások esetén, ahol minőségi egykristályok növesztése, eőállítása nem mindig lehetséges, a porröntgen diffrakció egy járható út lehet 3D molekula szerkezet meghatározására. Néhány megkötéssel, rutin feladattá válhat a kristályszerkezet meghatásozása megfelelő minőségű porröntgen diffraktogram használatával.

Készülékek:

  • Asztali, kompakt pordiffraktonméter kvalitatív/kvantitatív vizsgálatokhoz: Miniflex II
  • Nagyteljesítményű, multifunkcionális diffraktométer (SAXS, In-Plane, XRD-DSC stb.): Ultima IV 
  • Nagyteljesítményű, Ultra-Nagyfelbontású diffraktométer 9kW-os forgóanódos röntgen generátorral: SmartLab®
  • 18 kW-os, ultra nagyteljesítményű θ/θ diffraktométer rendszer: TTRAX III

 

Új, Nagy-felbontású Pordiffraktométer Ka1 geometriával

A RIGAKU Corporation egy új, nagyfelbontásó pordiffraktométer rendszert mutat be, mely a CBO optika és egy új, Johansson típusú kristály (CBO-E) kombinálásával egy rendszeren belül, horizontális mintatartóval, egy egyszerű slit váltással teszi elérhetővé a Bragg-Brentano geometriát, a Konvergens nyaláb geometriát és a Párhuzamos nyaláb geometriát Ka1 nagyfelbontás mellett.

The European Powder Diffraction Conference EPDIC 12, Darmstadt  2010. Augusztus 27 - 30

Bővebben...
 

CALSA - Új fejlesztésű kompakt multi analizáló kristály nagyfelbontású pordiffrakcióhoz, párhuzamos nyaláb alkalmazásával

A RIGAKU egy új, kompakt, nagyteljesítményű, több tökéletes kristályból álló diffraktált-nyaláb multi-analizáló kristály komponenst (CALSA) mutatott be Glasgow-ban, a PPXRD-8 konferencián. A komponensben a tökéletes Ge(111) kristályok úgy vannak elhelyezve, hogy az egyes kristályok rácssíkjai egybeesnek egy logaritmikus spirális függvény érintő síkjával. Az új komponens kombinálható félvezető gyors detektorral, illetve a RIGAKU CBO technológiával együtt párhuzamos nyaláb alkamazásával érhető el egyedülállóan nagy felbontás. 

Bővebben...
 

Reitveld refinements from an as-obtained rock chunk

Rietveld refinements results, using Rigaku's Ultima IV multipurpose diffraction system, were obtained from a solid rock chunk sample (Figure 1&2) composed of six mineral phases. The XRD data was collected in both the parallel and para-focusing beam geometry.

Bővebben...
 

X-ray diffraction of an over-the-counter pain medication

Figure 1 shows a diffraction pattern of Painaway, an over-the-counter headache product containing caffeine, aspirin (acetylsalicyclic acid), and acetaminophen. This combination of compounds with caffeine makes the product much more effective.

Using the MiniFlex II benchtop XRD system, the individual components can easily be determined.

Bővebben...
 

Non-destructive evaluation of pseudo-polymorphic impurities in a drug tablet

In the tableting process of a pharmaceutical product, the drug sometimes reacts with excipients (inactive substances used as carriers for the drug) such as sugar and starch, or the process induces a dehydration reaction or a polymorphic transition. Scientists involved in the pharmaceutical industry need to determine—as quickly as possible—whether a drug of interest maintains its original crystalline system during the tableting process or if polymorphic impurities are produced.

Bővebben...
 

RIR-based quantitative phase analysis of crystal polymorphism

TiO2 is widely used in white pigments, electronics materials, optical catalysts and UV absorbents. It exists in three polymorphs: rutile, anatase and brookite. The efficiencies of rutile and anatase as optical catalysts are different, so a method to determine the rutile:anatase ratio is needed. The quickest way to do quantitative XRD analysis is to determine the RIR (Relative Intensity Ratio).

Bővebben...
 


Oldal 1 / 2

Supermini asztali WDXRF spektrométer


WDXRF teljesítmény asztali méretben a F-U elemtartomány mérésére

Bővebben...

RIGAKU - Innovatív megoldások a röntgenspektrometriában: A Total Reflexiós Röntgenspektrometria újszerű alkalmazásai

A RIGAKU Corporation röntgenspektrometria területén megjelent új fejlesztései közül ezúttal a Total Reflexiós Röntgenspektrometria (TXRF) néhány újszerű alkalmazását szeretnénk bemutatni a RIGAKU új fejlesztésű, asztali TXRF készülékén, a NANOHUNTER készüléken keresztül. A szabadalmaztatott váltható gerjesztő forrásnak és a röntgennyaláb beesési szögének automatizált változtatásával a készülék nem csak az Al - U elemtartomány ppb szintű mérését teszi lehetővé, hanem vékonyrétegek esetén a felületi elemösszetétel, illetve szennyezések mélység szerinti profilja is roncsolás mentesen meghatározható. Ezáltal felületi folyamatok, diffúzió, szegregáció, felületi homogenitás stb. tanulmányozható.           Bővebben...