Szerkezet vizsgálat - Krisztallográfia
A RIGAKU által kifejlesztett, és a high-end XRD készülékeiben alkalmazott Cross Beam Optics (CBO) egy olyan optikai megoldás, mely egy rendszeren belül lehetővé teszi fókuszált és párhuzamos nyaláb használatát. Anélkül, hogy hardveresen bármit át kellene szerelni, automatikus váltás lehetséges nem csak a fókuszált és a párhuzamos nyaláb elrendezés között, de utóbbin belül lehetőség van kis szögű szórás és mikro analízis vizsgálatra is.
A CBO optikával felszerelt nagyteljesítményű ULTIMA IV pordiffraktométer és a nano-technológiai vizsgálatokra egyedülálló megoldást nyújtó, 2006-ban R&D díjat nyert, akár 9 kW-os, forgó anódós gerjesztő forrással is felszerelhető SMARTLAB vékonyréteg diffraktométer olyan maximálisan bővíthető, egyben kompakt rendszereket alkotnak, melyek a legspeciálisabb igényeket is kielégítik a diffrakciós vizsgálatok folyamán.
A nagyteljesítményű, laboratóriumi diffraktométerek mellett, rutin alklamazásokhoz, oktatáshoz, minőségellenőrzéshez egy komplett MiniLab sorozatot is kifejlesztett a RIGAKU, melyen belül megtalálható a kivételes Ár/teljesítmény arányú, asztali MINIFLEX II diffraktométer, mely kiválóan használható kvalitatív és kvantitatív pordiffrakciós alkalmazásokhoz, valamint a vadonatúj fejlesztésű XtaLAB asztali egykristály diffraktométer, mely tökéletes megoldás rutin molekula krisztallográfiai alkalmazásokhoz.
Az általunk ajánlott készülékek a következő alkalmazásokra kínálnak megoldást:
- Pordiffrakció (In-Situ XRD Magas/alacsony hőmérsékleten, SAXS,, XRD-DSC csatoltt technika)
- Nagyfelbontású diffrakció vékonyrétegek vizsgálatához (XRR, GXRD, In-Plane XRD)
- Mikrodiffrakció
- Egykristály diffrakció
