Nanotest Hungary Kft.

  • Increase font size
  • Default font size
  • Decrease font size
Címlap WDXRF spektrométerek

Hullámhosszdiszperzív röntgenspektrométerek

A hullámhossz diszperzív röntgenfluoreszcens spektrometria (WDXRF) napjainkban nélkülözhetetlen technikává nőtte ki magát olyan alkalmazások esetén, ahol gyors és pontos elemanalitikára van szükség, mint pl. acélgyártás, vagy cementgyártás során. A technika népszerűségének és elterjedtségének okai között az egyszerű használatot és a készülékek robusztusságát lehet megemlíteni, ami lehetővé teszi, hogy üzemi körülmények között, akár különösebb képzettség nélküli operátor által is pontos eredményt szolgáltat. A pontossága, gyorsasága és a WDXRF méréshez szükséges mintaelőkészítés egyszerűsége sok olyan problémától megóvja a felhasználót, melyek  oldatok mérésén alapuló technikák, mint pl. ICP vagy atomapszorpciós módszerek esetén jelentős nehézségeket okoznak. Ezen túlmenően, összehasonlítva az energia diszperzív röntgenspektrométerekkel (EDXRF), jelentősen jobb felbontásuknak és a nagyobb jel intenzitásnak köszönhetően, a RIGAKU WDXRF technológia interferenciáktól mentesen teszi lehetővé nagyobb mintaszám, sokkal pontosabb mérését és a nagyságrendekkel alacsonyabb kimutathatósági határétékek elérését.  


 

Supermini asztali WDXRF spektrométer
                                           



WDXRF teljesítmény asztali méretben a F-U elemtartomány mérésére

Bővebben...
 

ZSX PRIMUS nagyteljesítményű WDXRF spektrométer

Felső optikás WDXRF készülék porok, tabletták közvetlen vizsgálatához 

Bővebben...
 

Simultix14 szimultán WDXRF spektrométer

Multi-csatornás, nagyteljesítményű WDXRF -
max. 40 elem szimultán méréséhez

Bővebben...
 



RIGAKU - Innovatív megoldások a röntgenspektrometriában: A Total Reflexiós Röntgenspektrometria újszerű alkalmazásai

A RIGAKU Corporation röntgenspektrometria területén megjelent új fejlesztései közül ezúttal a Total Reflexiós Röntgenspektrometria (TXRF) néhány újszerű alkalmazását szeretnénk bemutatni a RIGAKU új fejlesztésű, asztali TXRF készülékén, a NANOHUNTER készüléken keresztül. A szabadalmaztatott váltható gerjesztő forrásnak és a röntgennyaláb beesési szögének automatizált változtatásával a készülék nem csak az Al - U elemtartomány ppb szintű mérését teszi lehetővé, hanem vékonyrétegek esetén a felületi elemösszetétel, illetve szennyezések mélység szerinti profilja is roncsolás mentesen meghatározható. Ezáltal felületi folyamatok, diffúzió, szegregáció, felületi homogenitás stb. tanulmányozható.           Bővebben...