Nanotest Hungary Kft.

  • Increase font size
  • Default font size
  • Decrease font size
Címlap RIGAKU Minilab sorozat
RIGAKU Minilab sorozat

A nagyteljesítményű szerkezetvizsgáló és elemanalitikai berendezései mellett, rutin alklamazásokhoz, oktatáshoz, minőségellenőrzéshez egy komplett MiniLab sorozatot is kifejlesztett a RIGAKU, melyek a maguk nemében egyedülálló és minden eddiginél egyszerűbb vizsgálatot tesznek lehetővé. A Minilab sorozatban megtalálható készülékek:
- MINIFLEX II asztali pordiffraktométer
- Supermini asztali WDXRF spektrométer
- XtaLAB asztali egykristály diffraktométer
- Nano-Hunter asztali totál reflexiós röntgenspektrométer
Ezek az asztali készülékek olyan technikákat, módszereket hoznak, rutinfelhasználók számára is, elérhető közelségbe, melyek eddig kizárólag laboratóriumi körülmények között, bonyolult installálási feltételek biztosítása mellett voltak használhatók.

Miniflex II asztali
pordiffraktométer


Röntgen diffrakció minden eddiginél egyszerűbben és olcsóbban 

Bővebben...
 


NANOHUNTER asztali TXRF
spektrométer

TXRF - Speciális technika kivételes érzékenységgel felületi szennyeződések vizsgálatához

Bővebben...
 

Supermini asztali WDXRF spektrométer


WDXRF teljesítmény asztali méretben a F-U elemtartomány mérésére

Bővebben...
 

Mini-Z asztali WDXRF
spektrométer család

Mini-Z

Fix csatornás asztali WDXRF készülékek egy elem mérésére optimalizálva

Bővebben...
 

XtaLAB egykristály diffraktométer

Kompakt egykristály diffraktométer oktatáshoz és kutatáshoz egyaránt

Bővebben...
 



RIGAKU - Innovatív megoldások a röntgenspektrometriában: A Total Reflexiós Röntgenspektrometria újszerű alkalmazásai

A RIGAKU Corporation röntgenspektrometria területén megjelent új fejlesztései közül ezúttal a Total Reflexiós Röntgenspektrometria (TXRF) néhány újszerű alkalmazását szeretnénk bemutatni a RIGAKU új fejlesztésű, asztali TXRF készülékén, a NANOHUNTER készüléken keresztül. A szabadalmaztatott váltható gerjesztő forrásnak és a röntgennyaláb beesési szögének automatizált változtatásával a készülék nem csak az Al - U elemtartomány ppb szintű mérését teszi lehetővé, hanem vékonyrétegek esetén a felületi elemösszetétel, illetve szennyezések mélység szerinti profilja is roncsolás mentesen meghatározható. Ezáltal felületi folyamatok, diffúzió, szegregáció, felületi homogenitás stb. tanulmányozható.           Bővebben...