Nanotest Hungary Kft.

  • Increase font size
  • Default font size
  • Decrease font size
Címlap RIGAKU Minilab sorozat Mini-Z WDXRF spektrométer család

Mini-Z asztali WDXRF
spektrométer család

Mini-Z

Fix csatornás asztali WDXRF készülékek egy elem mérésére optimalizálva

A Mini-Z készülék, egy olyan fix-csatornás, kompakt asztali hullámhossz diszperzív készülék, mely optimalizált optikai rendszerének köszönhetően lehetővé teszi adott elemek nagypontosságú mérését. Ennek megfelelően a Mini-Z Sulfur készülék egy kén mérésére optimalizált készülék, mellyel lehetséges üzemanyagok, benzin és gázolaj minták S tartalmának, 10 ppm alatti, szabvány szerinti mérése. A készülékkel elérhető kimutathatósági határérték (LLD) 0.3 ppm.

Ezen kívül a Mini-Z optimalizálható még pl. Si mérésére (Si bevonatú papírok, vagy műanyagok), Al mérésére (Al bevonatú papírok, vagy műanyagok), Ni mérésére (Ni bevonatok), vagy Zr mérésére (Zr bevonatok).

Jellemzők:

  • Kiváló kimutathatósági határérték
  • Csúcs és háttér mérése
  • Egyszerűen használható szoftver
  • Nem szükséges vízhűtés "plug and play"
  • Könyű és kompakt felépítés
  • Kiváló ismételhetőség
  • Széles analitikai tartomány
  • Nagy felbontású hullámhossz diszperzív optika
  • Nem igényel bonyolult mintaelőkészítést

RIGAKU Mini-Z P - foszfor mérés biodízel mintákban 10 ppm alatt

RIGAKU Mini-Z S - kén tartalom mérése üzemanyag mintákban 10 ppm alatt

RIGAKU Mini-Z Si - Silicium bevonat vasztagságának nagypontosságú mérése

RIGAKU Mini-Z Zr - Aluminium dobozok Zr tartalmú bevonatának vastagság mérése

 

RIGAKU - Innovatív megoldások a röntgenspektrometriában: A Total Reflexiós Röntgenspektrometria újszerű alkalmazásai

A RIGAKU Corporation röntgenspektrometria területén megjelent új fejlesztései közül ezúttal a Total Reflexiós Röntgenspektrometria (TXRF) néhány újszerű alkalmazását szeretnénk bemutatni a RIGAKU új fejlesztésű, asztali TXRF készülékén, a NANOHUNTER készüléken keresztül. A szabadalmaztatott váltható gerjesztő forrásnak és a röntgennyaláb beesési szögének automatizált változtatásával a készülék nem csak az Al - U elemtartomány ppb szintű mérését teszi lehetővé, hanem vékonyrétegek esetén a felületi elemösszetétel, illetve szennyezések mélység szerinti profilja is roncsolás mentesen meghatározható. Ezáltal felületi folyamatok, diffúzió, szegregáció, felületi homogenitás stb. tanulmányozható.           Bővebben...