Nanotest Hungary Kft.

  • Increase font size
  • Default font size
  • Decrease font size
Címlap Röntgendiffraktométerek SMARTLAB Ultra-Nagyfelbontású diffraktométer

SMARTLAB Ultra-Nagyfelbontású diffraktométer

Teljesen automatizált diffraktométer nanotechnológiai kutatáshoz

A SMARTLAB ultra nagyfelbontású diffraktométer a RIGAKU legkorszerűbb, teljesen automatizált moduláris kialakítású XRD rendszere. A berendezés magába foglal egy nagyfelbontású Theta-Theta goniométer vezérlő rendszert, a RIGAKU által kifejlesztett és szabadalmaztatott CBO-t (Cross Beam Optics). egy detektor oldali In-Plane rendszert valódi In-Plane méréshez, opcionálisan egy 9 kW-os forgóanódos röntgengenerátort és egy teljesen automatizált optikai rendszert, mely kevésbé tapasztalt felhasználók számára is lehetővé teszi a legbonyolultabb mérések elvégzését is. 

Mint a 2006 R&D 100 Award nyertese a technológiai újítások kategóriában, a SMARTLAB egy valóban új dimenziót nyit meg vékonyrétegek vizsgálatánál és nanotechnológiai alkalmazások esetén. A SAMRTLAB-ban alkalmazott, a RIGAKU forradalmian új "Guidance" vezérlő szoftvere és a beépített mérési módszerek, modulok segítségével lehetővé válik vékony rétegek, nano-kompozitok, porok, folyadékok teljesen automatizált mérése. Beépített modulok segítségével a felhasználó minden eddiginél egyszerűbben végezheti el a legbonyolultabb beállításokat igénylő méréseket is, mint pl. por diffrakció, surló beeséses diffrakció (GXRD), in-plane diffrakció, reflektivitás (XRR), kisszögű röntgenszórás (SAXS) vizsgálatok.

 

RIGAKU - Innovatív megoldások a röntgenspektrometriában: A Total Reflexiós Röntgenspektrometria újszerű alkalmazásai

A RIGAKU Corporation röntgenspektrometria területén megjelent új fejlesztései közül ezúttal a Total Reflexiós Röntgenspektrometria (TXRF) néhány újszerű alkalmazását szeretnénk bemutatni a RIGAKU új fejlesztésű, asztali TXRF készülékén, a NANOHUNTER készüléken keresztül. A szabadalmaztatott váltható gerjesztő forrásnak és a röntgennyaláb beesési szögének automatizált változtatásával a készülék nem csak az Al - U elemtartomány ppb szintű mérését teszi lehetővé, hanem vékonyrétegek esetén a felületi elemösszetétel, illetve szennyezések mélység szerinti profilja is roncsolás mentesen meghatározható. Ezáltal felületi folyamatok, diffúzió, szegregáció, felületi homogenitás stb. tanulmányozható.           Bővebben...