NANOHUNTER asztali TXRF
spektrométer
TXRF - Speciális technika kivételes érzékenységgel felületi szennyeződések vizsgálatához
A NANOHUNTER egy speciális technika, a Total Reflexiós Röntgenfluoreszcens Spektrometria (TXRF) egyedülállóan kompakt változatát testesíti meg. A 2007 R&D 100 Award győzteseként a TXRF technikát minden eddiginél elérhetőbbé teszi rutinfelhasználók számára is. A NANOHUNTER készülékkel a gyártó komplett analitikai csomagot kínál, rendkívül érzékeny méréssel, PPB-s kimutatási határértékekkel, lehetővé téve az elemanalízist nanorétegek, bevonatok, folyadékok és egyéb speciális anyagok vizsgálatakor.
A szabadalmaztatott váltható gerjesztő forrásnak és a röntgennyaláb beesési szögének automatizált változtatásával a készülék nem csak az Al - U elemtartomány ppb szintű mérését teszi lehetővé, hanem vékonyrétegek esetén a felületi elemösszetétel, illetve szennyezések mélység szerinti profilja is meghatározható. Ezáltal felületi folyamatok, diffúzió, szegregáció, felületi homogenitás stb. tanulmányozható.
Összehasonlítva más, ppb szintű nyomelemanalízist lehetővé tevő atomspektroszkópiás módszerekkel, a NANOHUNTER forradalmian új aspektusa a mérés elvégzéséhez szükséges minimális minta előkészítés. Ennél a technikánál nincs szükség bonyolult és drága mintaelőkészítési folyamatokra (klasszikus feltárás, mikrohullámú feltárás), hanem folyadékok, porok, vékonyrétegek közvetlenül mérhetők.
A
