Nanotest Hungary Kft.

  • Increase font size
  • Default font size
  • Decrease font size
Címlap RIGAKU Minilab sorozat Miniflex II asztali pordiffraktométer

Miniflex II asztali
pordiffraktométer


Röntgen diffrakció minden eddiginél egyszerűbben és olcsóbban 

A kivételesen jó ár/teljesítmény arányú MiniFlex II asztali röntgen diffraktométer valódi áttörést jelent a labortechnológiában: a korábbi készülékeknél jóval olcsóbban és hatékonyabban alkalmazhatják az ipari laboratóriumok, egyetemek és kutatóintézetek. Ez az egyszerű és olcsó üzembe helyezés, az alacsony energiaszükséglet, a kompakt méret és a különösen alacsony karbantartási igény révén minden eddiginél egyszerűbbé és költséghatékonyabbá teszi a speciális laboratóriumi méréseket.

Talán túlzás nélkül állítható, hogy a MiniFlex II készülék a világ legegyszerűbben használható röntgen diffraktométere. Installálása kevesebb, mint két órát vesz igénybe. Egy gombnyomással üzemeltethető az előre beállított optikai rendszere, könnyen kezelhető szoftvere néhány perc alatt is hatékony és gyors diffrakciós mérést tesz lehetővé. Kompakt mérete – akár hordozható is – illetve minimális helyigénye miatt laboratóriumban, gyártósoron, előadóteremben vagy akár külső terepen is praktikusan használható.

Jellemzők:

  • Kis, azsztali méret kompakt sugárzásvédelmi borítással együtt 
  • Változtatható rés a belépő oldalon 
  • Egyszerű, gyors üzembehelyezés és felhasználói betanítás
  • Gyárilag beállított goniométer rendszer
  • HAsználható laptoppal
  • Opcionális doboz szállításhoz

Ismerje meg a Miniflex II készülék alkalmazási lehetőségeit!

 

RIGAKU - Innovatív megoldások a röntgenspektrometriában: A Total Reflexiós Röntgenspektrometria újszerű alkalmazásai

A RIGAKU Corporation röntgenspektrometria területén megjelent új fejlesztései közül ezúttal a Total Reflexiós Röntgenspektrometria (TXRF) néhány újszerű alkalmazását szeretnénk bemutatni a RIGAKU új fejlesztésű, asztali TXRF készülékén, a NANOHUNTER készüléken keresztül. A szabadalmaztatott váltható gerjesztő forrásnak és a röntgennyaláb beesési szögének automatizált változtatásával a készülék nem csak az Al - U elemtartomány ppb szintű mérését teszi lehetővé, hanem vékonyrétegek esetén a felületi elemösszetétel, illetve szennyezések mélység szerinti profilja is roncsolás mentesen meghatározható. Ezáltal felületi folyamatok, diffúzió, szegregáció, felületi homogenitás stb. tanulmányozható.           Bővebben...