Nanotest Hungary Kft.

  • Increase font size
  • Default font size
  • Decrease font size
Címlap Műanyagok és Vegyipar Adalékolt PET műanyag minta kvantitatív analízise

Doped PET polymer quantitative regressions

Being a fast, simple and non-destructive method WDXRF has become a desired quality control technique to check for purity and/or trace process contaminants in the manufacturing of PET. The following Quantitative Regression results, created on a Rigaku ZSX Primus II, originate from empirical calibrations using several PET standard samples which were doped with standard additions of zinc sterate (analyzed by Zn concentration), calcium sterate (analyzed by Ca concentration), talc (analyzed by Mg concentration) and sodium benzoate (analyzed by Na concentration). Other spiked additions of Al, Ti, and P were also added to the PET carrier to illustrate a wide variety of complex polymer matrices.

 

Images 1 through 7 demonstrate the Quantitative Regression, LLD and precision data for P, Ti, Ca, Al, Zn, Na, and Mg concentrations in a PET matrix, respectively.

Figure 1: Quantitative Regression, LLD and precision data for P concentration in a PET matrix

 

Figure 2: Quantitative Regression, LLD and precision data for Ti concentration in a PET matrix

 

Figure 3: Quantitative Regression, LLD and precision data for Ca concentration in a PET matrix

 

Figure 4: Quantitative Regression, LLD and precision data for Al concentration in a PET matrix

 

Figure 5: Quantitative Regression, LLD and precision data for Zn concentration in a PET matrix

 

Figure 6: Quantitative Regression, LLD and precision data for Na concentration in a PET matrix

 

Figure 7: Quantitative Regression, LLD and precision data for Mg concentration in a PET matrix

Zinc data:

LLD= 1.0 ppm 

Precision= 0.3 ppm

Aluminum data: 

LLD= 0.4 ppm 

Precision= 0.3 ppm

From these results it is easy to see that the Rigaku ZSX Primus II WD-XRF spectrometer is capable of this analysis with superior LLDs and precision.

 

Miniflex II asztali
pordiffraktométer


Röntgen diffrakció minden eddiginél egyszerűbben és olcsóbban 

Bővebben...

RIGAKU - Innovatív megoldások a röntgenspektrometriában: A Total Reflexiós Röntgenspektrometria újszerű alkalmazásai

A RIGAKU Corporation röntgenspektrometria területén megjelent új fejlesztései közül ezúttal a Total Reflexiós Röntgenspektrometria (TXRF) néhány újszerű alkalmazását szeretnénk bemutatni a RIGAKU új fejlesztésű, asztali TXRF készülékén, a NANOHUNTER készüléken keresztül. A szabadalmaztatott váltható gerjesztő forrásnak és a röntgennyaláb beesési szögének automatizált változtatásával a készülék nem csak az Al - U elemtartomány ppb szintű mérését teszi lehetővé, hanem vékonyrétegek esetén a felületi elemösszetétel, illetve szennyezések mélység szerinti profilja is roncsolás mentesen meghatározható. Ezáltal felületi folyamatok, diffúzió, szegregáció, felületi homogenitás stb. tanulmányozható.           Bővebben...