Részecske méret eloszlás vizsgálata a szub-mikronos tartományban Ultra-Kisszögű Röntgenszórás (USAXS) technika alkalmazásával
A kisszögű röntgenszórás vizsgálat (SAXS) egy bevált technika részecske méret eloszlás meghatározására és nano-anyagok molekula szerkezetének tanulmányozására. A hagyományos SAXS technikával vizsgálható maximális részecske méret általában 100 nm körül van. Az utóbbi időben különböző anyagok esetén szükségessé vált a szub-mikronos méretű részecskék SAXS vizsgálata is.
Ennek a tartománynak a méréséhez azonban 0.07nm-1 alatti SAXS profil mérésére van szükség. Ebben a prezentációban ultra-kisszögű röntgenszórás (USAXS) mérési módszert mutatunk be CBO optikával (Cross Beam Optics) felszerelt RIGAKU Smartlab, nagyfelbontású 9kW-os forgóanódos XRD rendszer és pseudo Bonse-Hart geometria alkalmazásával.
SmartLab 9kW theta-theta X-ray diffractometer with Cross Beam Optics (CBO) Cu target: 45kV-200mA, parallel beam geometry
A rendszer felbontása és teljesítménye különböző sub-mikronos anyagok mérésén keresztül kerül bemutatásra. A méréseket követően az USAXS mérési eredményeket LSM, SEM és TEM mérési eredményekkel hasonlítottuk össze.
A 2009 Október 11-13 között megrendezésre kerülő Országos Anyagtudományi Konferencián cégünk kiállítóként is résztvesz, ahol szeretettel várunk minden kedves érdeklődőt. Az előadás témájával kapcsolatban további információért, kérjük, forduljanak hozzánk bizalommal az Ezt a címet a spamrobotok ellen védjük. Engedélyezze a Javascript használatát, hogy megtekinthesse. címen.
